一．PFL780故障诊断系统特点及功能

    PFL780提供了强大的测试功能及优秀的集成环境，使用户可以很方便地编写测试程序，对各式各样的印刷电路器件进行测试。PFL780 应用了现已被业界广为称赞的模拟信号分析(ASA)技术，该技术可使用户高效地解决印刷电路板的故障问题；除此之外更拥有另一种检测故障的手段--在线功能测试。

1）PFL780电路板故障检测仪具有：

4个IDC插座，共128个测试通道；
A通道和B通道探针；
两个并行的COM （公共地）连接器；
两个脉冲信号发生器并行输出；
ICT 5V 电源；
4个ICT 逻辑高（5V）及低（0V）的隔离电平；
脚踏开关（ACC124）。（踩下脚踏开关相当于在 工具栏 中按下 测试 按钮。）

2）模拟信号分析

模拟信号分析（ASA）技术，是指对被测器件的引脚施加一个小功率、处于安全使用范围之内的交流驱动电压（AC），而使其在电脑屏幕上显示出一个阻抗信号（V-I曲线）。阻抗信号是一个以窗口屏幕中心为原点，以电平和电流分别作为X轴、Y轴的图形。正电压和电流显示与右上象限；负电压和电流显示在左下象限。

负载线在坐标轴上相接，围成一个菱形区域。所有测试信号都在这个区域内。
不同类型的器件的信号波形明显不同，因此很容易被分辨出来。测试操作一旦完成，驱动电压将立即取消。因此，用户不必担心待测器件会被损坏。对比有故障器件和正常器件的测试信号，这样，对一些复杂电路，不须了解其功能特性，也可以找出故障原因。 这一点在技术文档不完备的情况下 显得犹为重要。

3）在线功能测试

PFL780 的在线测试功能是指：将待测器件在测试过程中实际测到的逻辑输出与它本身所带的数字器件库中所定义的相应器件的标准输出相比较，以判定器件的好坏。进行在线功能测试时，无须将器件从电路板上摘除，只需将测试夹具夹在待测器件上即可进行测试。
PFL780 器件库包含从简单的门电路到微处理器的多个应用领域的数字器件（不同的逻辑系列）。
PFL780 可以将一个采集到的、好的器件的信号，作为进行比较的参照标准。器件中具有固定逻辑高/低电平的引脚，以及引脚间的内部连接，也将作为参照数据的一部分而保存起来。
在ICT 编程及测试期间，引脚连接图和逻辑时序图显示出控制线、信号输入和输出间的相互关系，可以让用户很直观地看到器件每个引脚的动作。
当处于PFL 交互测试窗口 时，用户可以直接使用ASA 技术测试器件 _ 使用 交互测试 功能可以同时对比有故障的电路板和作为参照的正常电路板，多用于小范围内的比较测试。
器件的测试信号显示在计算机屏幕上。通道A所测试器件的信号波形为绿色，通道B的为红色。

4）用户在操作屏幕上可以调整可以调整以下选项：

测试范围选择

在 交互测试窗口 中，可以用手动/自动方式选择测试电平和频率。这样可以快速选出适合待测器件或电路的测试电平和频率。

屏蔽指定的测试电平

使用电平范围菜单中的屏蔽命令，用户可以选择在手动、自动或循环方式下需要屏蔽的电平范围。

自动选择适合的测试电平范围

使用 自动 选项，可以自动选择能产生有意义的信号波形的驱动电平范围。通道 A 可以执行这种操作。

循环测试

使用 循环 选项，在每个电平范围内循环显示测试信号。拉动 步频 控制条来设置每个范围驱动电平的保持时间。

可调整测试的容错度

拖动 容错度 控制条（从1 至 99%）来改变信号比较的灵敏度。较小的值代表较严格的比较，较大的值允许信号有较多的不同。开始时容错度设置为5%，可以调整这个值，使好的器件能通过测试而有故障的被查出。

声音提示

单击 声音提示按钮 ，可以使PFL在对比两个信号期间，一旦出现超过 容错度 设定的差异时，即刻发出声响警告。该项功能使用户在测试时能够专注于对待测器件的操作，而不必总要留意计算机屏幕。

脉冲信号发生器

PFL具有脉冲信号发生电路，通过调整脉冲信号的振幅, 脉宽, 极性和延时，来控制三极管, SCRs, Triacs 和其它三端器件的导通状态。

二.半导体分立器件测试

1）测试电阻

纯电阻器件产生的信号波形为一条斜的直线，其斜率由阻值而定。
下图显示的是三个不同阻值的电阻（2kΩ、270kΩ和10KΩ）的典型信号波形。
2ΚΩ电阻，逻辑电平，低频 Ω电阻，高电平，低频Ω电阻，高电平，低频

2）测试电容

由于具有储能特性，电容、电感器件的测试信号将在电压和电流上产生相位移。
测试信号将因此呈现为圆形或椭圆形。

3）测试电感

左下图是铁心变压器的一次线圈，在测试电平为 低电平，测试频率为 高频 时的信号波形。由于受器件中电阻成分的影响，椭圆形信号是倾斜的。右下图显示的是相似的铁心变压器，但其有短路匝。用户可以选择最适合的测试频率_低频、中频 或 高频 。对于电容器件而言，测试频率越高，通过的电流越大，此时信号波形在Y轴方向的延伸就越长；而对于电感器件而言，测试频率越低，通过的电流越大。

4）测试二极管,LED和齐纳管

对于二极管，当施加正向电压时，其呈现出低阻抗特性，有0.6V压降，信号波形近似为一条平行于Y轴的垂直线，如图。

5）测试三极管

一个三极管由两个PN结以"背对背"方式组成（一个在基极和集电极之间，另一个在基极和射极之间）。下图显示的是三种典型的NPN型三极管的测试信号波形（基极-射极，基极-集电极以及射极-集电极）。NPN型三极管的集电极和射极为N-型材料，基极为P-型材料。.
基极-射极间的测试信号与齐纳管的相似。长时间对基极-射极间PN结施加反向击穿电压，将会影响器件的特性。
基极-集电极间的测试信号与普通二极管相似。
集电极-射极间的测试信号有如二极管和齐纳管串联在一起。当驱动电压为正时（右区域），集电极-基极间是反向偏压，基极-射极间是正向偏压。集电极-基极间的反向偏压抑制了电流，形成一个开路信号（一条垂直线）。
当驱动电压为负时（左区域），集电极-基极间是正向偏压，基极-射极间是反向偏压。基极-射极间的信号就象上述齐纳管反向击穿时的一样，为一个类似于齐纳管信号偏压抑制了电流，形成一个开路信号（一条垂直线）。

PNP三极管的信号波形刚好和NPN三极管的波形相反。

6）判断三极管引脚

对三极管进行三端测试，可驱动三极管的基极，检查它是否能控制集电极-射极间的导通。
由于三极管具有的开关特性，当其开始导通时，信号波形多类似于右图。（波形相反是因为是PNP管的缘故）。 这并不表明有故障，只是说明器件在正常导通和饱和状态之间切换。选择其它范围电压进行测试，可以得到稳定的信号波形。
测试场效应管（JFETs）可当作普通二极管来测试。而对MOSFET管可进行三端测试

7）测试光电隔离器

光电隔离器由一个作为输入的LED 和一个在电气上完全隔离的输出三极管组成（基极隔离）。
作为输入端的二极管可按普通二极管来测试，输出端的三极管（集电极-射极特性）的信号波形不是一条水平线（开路），就是和普通三极管的射极-集电极波形一样。也可用脉冲信号发生器对光电隔离器进行三端测试

8）测试SCR及Triacs

SCR可以看作是一个二极管外加一个控制端（所谓“栅极”）。 Triac与SCR非常相似，只不过Triac既可以受控于正向栅极电流，也可以受控于反向栅极电流，从而能够双向导通。二者都可用脉冲信号发生器对其进行。

三．集成电路V/I曲线测试

所有的集成电路都可以用探针对其引脚进行测试（例如，对比两块电路板上相应引脚的信号波形）。绝大多数的IC在此方式下测得的波形都与二极管或齐纳管相似。
注意： 由于IC制造商采用的生产技术不同，因此即使是同一型号的IC,也可能有不同的信号波形。测试前应考虑到这一点。
对CMOS器件的ASA测试与上同，只不过由于制造工艺不同，VI曲线有所不同。

1)测试在线器件

当测试一个在线器件时，其信号波形也包含着其他并联器件的波形。大多数的故障测试都有这种情况发生。一个故障器件可能会影响与之相连的其它器件的测试信号。用户可以测试多个点的信号波形，通过分析来找出故障器件。
电路中，任一测试点的电气特性是不同的。最好的测试方法就是：使用通道A 和 B 同时测量好板和故障板，来找出故障点。

2)测试总线上的器件

当多个器件连接在同一条总线上，可比较总线间信号的差异。同一总线上各传输线的信号波形应该很相似（例如，所有数据线上的信号是一致的）。如果总线中有一根线的信号波形和其它的线不同，那么很有可能总线上的一个器件坏了。

四．快速测试检测器件

在PFL的 快速测试 窗口中，用户不用编写测试程序，直接就可以测试器件和电路板。如果用户拥有一块正常的电路板，那么就可以使用比较技术进行测试。执行 快速测试 操作，用户可以从正常电路板上采集器件信号作为参照信号，然后再采集待测器件的信号与之比较。

点击工具栏上的按钮或点击相应菜单即可执行各种操作。

有三种方法来实现 快速测试 比较功能：

标准模式 输入器件的型号即可。
ASA模式 设备将自动检测待测器件的引脚数目并执行 ASA 测试。
探针模式 使用探针或Polar SMD 探针进行测试。

1）ICT连接功能

ICT连接使用器件的ICT驱动来检查内部连接引脚或固定引脚。如果待测器件没有ICT驱动，PFL将执行ASA连接测试。

2）ASA连接功能

ASA连接 功能检测哪些引脚与公共地短接。

3）使用‘快速测试’进行比较测试

按 快速测试 按钮 _ 显示 快速测试 窗口，上一次测试的器件型号显示在下拉列表窗口内。
在比较测试中， 快速测试 窗口将显示 采集参照信号 的提示，输入器件型号（例如74LS244，或者从器件库列标中选择器件），将测试夹具夹在好的器件上，然后按 测试按钮 或踩脚踏开关采集并保存参照信号。

（如果为此器件输入了注释信息或注意事项，那么这些信息将在采集信号前显示在屏幕上；按 确定 按钮继续执行测试。）

参照信号可以通过切换 查看屏幕.进行浏览。按 查看 ASA，查看 ICT 或 查看连接 按钮，打开或选择一个查看屏幕。

显示 采集待测器件信号 的提示时，将测试夹具夹在待测器件上，然后按 测试 按钮，待测器件的信号将与保存的参照信号进行比较。

结果栏中将显示 通过 或 失败 的测试结果，并且在列表中用 绿色对钩 或 红色小叉 来表明不同类型的测试是否通过或失败。

4）查看ASA测试结果

ASA 结果窗口显示参照信号和待测器件的每个引脚在设定的所有电平范围内（结电平，逻辑电平，低电平等等）的信号波形。

5）查看ICT测试结果

ICT 查看屏幕将显示待测器件的逻辑时序图。
逻辑时序图 以图形的方式表示在线器件的逻辑功能。逻辑时序图 显示器件的每个引脚在每个测试步骤上的逻辑电平，显示控制线和信号输入及输出间的关系，以可视化的方法表现每个器件引脚上的动作。

6查看连接

连接 窗口显示器件的 连接 测试结果。

五．电路板故障检测

1）自动测试

如果没有参照电路板用来进行比较测试，选择 自动 选项，对待测电路板上的器件进行 ICT 测试。
当一个器件被置于电路中时，其逻辑操作和标准状态下的操作是不同的。例如，将一个双输入与非门的输入引脚短接，其功能将和一个反向器相同。自动 功能将自动修正这种情况下的测试方法。
当使用 自动 功能进行测试时，PFL780 将识别待测器件的引脚哪些是相连的，哪些是连接在固定电平上的，然后为待测器件建立一个软件模型，将待测器件在当前电路环境下与这个模型进行测试。

2）搜索器件型号

当一个器件的型号不可知时（例如，器件型号已模糊不清或被打磨掉），可使用 搜索 功能。PFL780 将在它的 ICT 器件库中搜索与未知器件行为模式相符的器件。

六．使用ICT进行电路板及器件测试

使用 PFL780 ，用户可以对在器件库中建立有测试模型的器件，进行单一的和反复的 ICT 测试。当不知道器件的型号时， PFL780将器件和器件库中的数据进行比较，列出相同功能的器件型号。
ICT 测试技术，被广泛地应用于测试和维修那些包含数字集成电路的印刷电路板。
ICT 是一种对逻辑器件执行功能测试的测试方法。ICT 按照数字集成电路的设计参数，验证其相应的逻辑功能是否正确。在进行 ICT 测试期间，PFL780 驱动数字器件的所有输入端，并检查其输出端的结果是否正确。
使用 ICT 可以测试大量的逻辑器件（例如，利用 ICT 功能，PFL780 可以轻易的根据真值表来测试逻辑门电路，或在一段给定的时钟周期内测试计数器或移位寄存器）。
ICT 甚至可以测试非常复杂的器件 _ 举个例子，PFL780可以测试大容量的存储器，例如VLSI RAM （写入每个存储单元，然后读出以验证数据是否正确）。
ICT 也可以用来测试可编程器件，例如对ROM或EPROM的编程是否正确或可编程接口器件的受控是否正确。
使用 ICT ，PFL780 将正常电路板上的器件信号储存起来，用以和待测电路板上相应器件的信号相比较，测试结果表现为显示“通过/失败”或显示引脚间的连接和逻辑时序图， 使用户可以快速找出那些较隐蔽的错误。

大多数情况下，用户只需将测试夹具夹在待测的数字器件上，指定器件的型号（如果已知的话），就可以进行测试。在 ICT 测试中，PFL780在测试期间自动为待测器件加电，对比待测器件和器件库中标准器件的逻辑功能。

1）测试在线器件

某些情况下，器件在电路中的逻辑动作与其真值表的描述一致。此时，用户只要简单地将测试夹具夹在器件上，并指定器件型号就可进行测试。

通常，用户首先用 PFL780 采集好板子上器件的信号。在采集过程中，会将器件的工作模式和器件库中相应器件的标准工作模式相比较，它们间的差异会被记录下来。

采集到的信号将作为参照信号，用来和待测板上相应器件的信号相比较。

为了处理不同的制造商生产的同一型号器件间存在差异的问题。PFL780允许用户保存多个制造商生产的器件的信号作为参照信号，待测器件的信号将和这些参照信号相比较。

2）后驱动技术

如果要完全测试一个数字器件，测试程序必须核定被测器件在所有可能的输入情况下的输出结果是否正确。PFL780的内部测试电路能够提供或吸收额外的电流，来改变待测器件任意引脚上的逻辑电平，强制引脚处于指定状态，而不管其前级输出的逻辑状态如何 _ 这就是我们通常所说的后驱动技术。

后驱动 是在数字在线测试技术之后出现的主要测试技术。为了对数字集成电路进行一次完整的逻辑功能测试，必须使待测器件的输入端出现 所有 可能的逻辑状态。驱动待测器件的 输入 通常是指反向驱动（提供或吸收输出电流）与其相连的其它器件的 输出 。

为了限制对待测器件前级门电路的电流驱动，PFL780 将在16mS内完成整个测试过程。
以上是对获得国际上广泛认同的后驱动技术的阐述。

3）数字芯片的ICT测试

注意：在进行 ICT 测试期间， 务必确保设备不和任何外部的0 至 +5V 相连接。否则，极易对 ICT 驱动器/传感器网络造成损坏。
或者，在进行离线测试时使用 ZIF 测试座（ACC145）。
在线器件的信号采集和测试过程要求对电路板加电。整个过程由两个测试部分组成 _ 连接测试和逻辑功能测试.

1>连接测试

在连接测试中，PFL780 检查器件引脚的状态。
指出哪些状态固定为高或低电平的引脚（例如，电源引脚和接地引脚总是固定为高电平和低电平）。
PFL780 也记录引脚间的内部连接。
连接测试的结果显示在连接窗口。

2>功能测试

在功能测试中，PFL780 检查器件是否正确实现了它本身的逻辑功能。
PFL780 从器件库中调出测试程序，驱动器件的所有输入端并监视输出端上的相应变化。
功能测试的结果显示在ICT 窗口，.

3>调整测试条件

当在线测试数字集成电路时，待测器件必须可以初始化，确保电路中的其它器件不能影响到测试的结果,防止其它信号 （例如，时钟信号） 干扰测试结果。

4>逻辑时序图

逻辑时序图 以图形的形式显示在每个器件引脚测试过程中的每个测试步骤上的逻辑电平状态。
电平显示为 高电平，低电平，三态（高低电平间的点划线） 或 无关 （斜杠区域）。
参照信号（学习到的信号）的波形呈 绿色 。
正确的引脚波形也显示为 绿色；错误的引脚波形呈 红色 ，易于分辨。

5>采集器件信号

当以逻辑真值表测试器件时，PFL780 从器件库中载入测试程序，将器件的动作和器件库中标准模式器件的动作相比较。
对于焊接载电路中的器件，用户首先用 PFL780 采集正常电路中的器件信号，作为参照信号。
在采集参照信号的过程中， 将器件的逻辑时序和器件库中“标准”器件的相比较，并将两者间差异保存起来。这种情况下，甚至在有悬空引脚、和本身其它引脚或附近器件的引脚相连的引脚、接地或接高电平的引脚等的情况下，也能对器件进行测试。
存储的信号作为参照信号，用来和怀疑有故障的电路板上的信号进行比较 _ 成功则显示“通过”。
使用 PFL780 还可以学习和测试烧录好的可编程器件，例如EPROM和PAL。对器件的学习过程是测试程序的一部分。

6>测试器件

当测试器件时，PFL780 显示测试的结果，包括测试是否通过，引脚分布图，显示所有的固定引脚以及确定的和意外的连接，一个逻辑状态图（用来表明器件引脚在每个测试点上的逻辑状态）。
PFL780 载入已完成学习操作的测试程序进行测试。测试的结果（通过或失败），将和 ICT 测试的结果同时显示。即显示连接测试的结果和功能测试通过或失败的引脚序号。
连接框图中显示每个引脚的序号和功能（例如CLK, VCC, GND, 等等），以及是否为固定引脚和相连引脚。

七．对在线器件进行隔离

1)总线器件（三态）

在总线系统中，所有器件通过总线连接。任何时候，总线上只能有一个器件发送数据。
因此，总线上所有器件的输出就必须具有一种不同于逻辑高电平或低电平的状态 _ 开路状态。这样，总线器件就具有了所谓的三态 ：高电平、低电平和开路。
三态器件有一个使能输入端，用来控制器件的连接状态（是作为普通逻辑器件连接到总线上，还是对总线开路）。
使能端通常和微处理器的某根控制线连接（有时是间接连接）。使能信号一般为逻辑低电平，即使能端上的低电平允许总线器件输出高或低电平。

提示： 将微处理器系统中的 CPU 摘除可使总线器件的使能端悬空至高电平。这样做可使总线器件相互隔离，防止出现总线冲突。

当总线器件被禁止时，其输出对于总线来说是开路的，可看作是器件从总线上脱离 _ 通过禁止总线器件可使待测器件独享总线。

2)使用PFL780提供的隔离电平将在线器件隔离

在多数情况下，将器件摘除或禁止都很困难。

PFL780 在前面板提供了逻辑高和低的隔离电平（+5V 和 0V），来禁止待测器件周围的外围器件。这样就不必采用将待测器件从电路板上摘除的隔离方法。

如果象诸如摘除CPU或禁止总线缓冲器的方法实现起来较困难，那么可以使用提供隔离电平到CPU的RESET，HOLD，或DMA 请求端的方法来隔离总线上的器件。

许多类型的器件具有一个低有效端或控制线 _ 对控制线加一个逻辑高电平将使输出端呈高阻状态，起到输出开路的作用。如果有多个器件共享总线，那么就需将隔离电平加到其中多个器件上，以保证能有效地隔离待测器件。

测试总线上的器件时，有效的隔离方法是提供隔离电平到总线上所有其它器件的输入使能端（强制这些器件的输出呈开路状态）。

下图中， U2是待测器件，隔离电平加在U1输入使能端，U1 的输出呈开路状态。
使用隔离电平隔离一个器件

八．器件库及其扩展

PFL780 系统软件的器件库涵盖范围很广，其中包含有大多数通用数字器件的功能说明及引脚定义，如；TTL 器件（74和75系列）、4000 系列的 CMOS 器件、微处理器和微控制器、微处理器接口器件、存储器器件和可编程逻辑器件等。同时，PFL780还为用户提供了扩展器件库的工具— 器件库管理器和ICT驱动程序编程软件，可以创建新的器件，或者为库中已有器件建立别名。

1)编程窗口

当 PFL 系统启动时，将显示 快速启动 对话框，用户可从中选择学习一块电路板、执行一个已有的测试程序（从列表中选择）或选择 交互测试 或 快速测试 （ 快速启动 对话框中显示最近进行的一系列测试程序；如果还没有创建测试程序，将显示一个名为 无标题 的、空的测试程序。可以用 设置 菜单中的 提示 命令，禁止其在系统启动时显示）。
PFL 编程窗口提供了一个图形化界面，用户可以 创建一个新程序, 或修改、删除一个已有的测试程序.
大多数情况下，用户只需简单地从器件库中选出某种类型的器件，就能进行测试 _ PFL 也允许用户对测试类型和参数进行相当程度上的修改。
好的器件信号可以作为参照信号存储起来以供用户查看，可按器件引脚顺序或按差错率降序顺序来排列和查看待测器件的信号。另外，对于不同制造商生产的同一型号的器件，可按制造商的名称来存储各自的参照信号。这可以消除由于各制造商生产的器件间的差异而造成的误判断。

2)查看ASA信号

对于一个器件来说，每个屏幕最多可以显示10个信号。当查看一个多引脚器件的信号时，可用鼠标或↑、↓键来上下滚动屏幕。同时，可以：

3)调整ASA信号显示顺序

4)为信号制作硬拷贝

从 文件 菜单中选择 打印 命令，可将所选器件已存储的信号波形打印出来。选择 打印预览 命令，可在向打印机输出之前检查信号波形。

5)查看ICT数据

ICT 查看屏幕显示所选择集成电路的引脚连接图，以及测试期间引脚的逻辑时序图。

6)查看逻辑时序图

逻辑时序图显示所选器件在每个测试步骤时的引脚状态（测试步骤的序号显示在框图之上）。

7)查看连接数据

选择 ASA 连接 或 ICT 连接 ，将显示有关器件 连接 的数据。

九．电路板测试步骤

PFL780 提供了一个集成化的编程环境，用户可以同时使用 ASA 和 ICT 技术创建测试程序。
测试一块电路板有以下几个步骤：

1）创建一个新任务

从文件菜单中选择新建命令_PFL将打开一个新的测试列表窗口。
选择插入器件命令向列表中添加器件。
用测试命令来采集和验证器件的参照信号。
通过ASA,ICT和连接窗口查看器件信号。
用插入器件命令向测试列表中添加其它器件。
必要时为器件或电路板添加注释。
保存测试任务文件。

2）测试电路板

从 文件 菜单中选择 打开 命令来选择并打开电路板的测试文件。
从器件列表中选择一个待测器件。
单击 测试 按钮或踩下脚踏开关，对待测器件进行测试。
查看屏幕上的测试结果，确定测试是否 通过 ，或连续测试完文件中的所有器件。

3）排除测试类型

通常，器件将执行ASA、ICT和连接测试,用户需要的话可以禁止其中的某种类型的测试。从 电路板 菜单中选择 禁止测试类型 命令，然后将相应测试类型前的复选框取消 _ 待测器件将只执行剩下类型的测试。
如果某一测试类型被禁止，那么在测试列表窗口中将不能显示相应的选项。

4）使用电路板外观图

这是PFL780特有的一项功能。用户可以通过扫描仪、数字相机等设备获得待测电路板的图象（BMP文件），再在测试文件中打开此图象文件，将测试列表中的各测试器件与电路板图象上的器件一一对应，使测试过程更加直观醒目。

十．电路板故障检测系统高级编辑

测试参数的缺省值使用于大多数器件的测试。器件 菜单中的 高级编辑 命令允许用户对测试程序中每个器件的测试参数进行更改（例如，指定测试类型，设定不同的测试电平或频率，等等）。

高级编辑 菜单包含以下选项卡：

在测试过程中需要使用脉冲信号发生器时，选择方式1，方式2或直流等脉冲方式。

可更改器件引脚的名称，如IRQ, CLK等等。

允许用户对一状态不稳定的引脚,禁止使用一种或全部四种测试类型，以排除偶然性干扰对测试结果的影响.

选择数据记录选项可以为待测电路板类型建立数据记录.使用数据记录,用户可以收集到有关电路板的统计数据或器件的故障率(用于质量管理和生产过程控制).

2)打印测试程序

从文件菜单中选择打印命令可以得到一份测试程序的硬拷贝_ 一份器件及其相关的测试参数的列表.打印前,可从文件菜单中选择打印预览命令查看测试文件.使用打印预览工具栏可以整篇浏览测试文件.

十二.技术支持与培训

Polar 公司将指导常规的技术培训并解答有关PFL 测试操作和 ASA 及 ICT 测试技术的问题 _ 请与本地的Polar公司代理商联系以获得更多的帮助。

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